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ETUDE DE PERTURBATIONS CRISTALLINES PRODUITES PAR DES IONS DE MOYENNE ENERGIE.JOUFFREY B.1964; PARIS, THESE FAC. SCI., CENTRE ORSAY.; 1964, P. 1 A 42Miscellaneous

INTERET DES TESTS CUTANES SYSTEMATIQUES DANS LE DEPISTAGE DES AFFECTIONS ALLERGIQUES RESPIRATOIRES DE L'ADULTE JEUNEJOUFFREY B.1974; ; S.L.; DA. 1974; PP. (65P.); BIBL. 12P. 1/2; (THESE DOCT. MED.; CLAUDE-BERNARD LYON I)Thesis

RECENTS DEVELOPPEMENTS EN MICROSCOPIE ELECTRONIQUE.JOUFFREY B.1974; SPECTRA 2000; FR.; DA. 1974; VOL. 2; NO 9; PP. 23-35Article

WHAT CAN BE DONE WITH HIGH VOLTAGE ELECTRON MICROSCOPY.JOUFFREY B.1980; LECTURE NOTES PHYS.; DEU; DA. 1980; NO 112; PP. 402-414; BIBL. 68 REF.Conference Paper

LES DISLOCATIONSJOUFFREY B.1980; COURR. C.N.R.S.; FRA; DA. 1980; NO 35; PP. 8-19; BIBL. 81 REF.; 17 ILL.Article

ETUDE DU COMPORTEMENT VIBRATOIRE D'UN MICROSCOPE ELECTRONIQUE A HAUTE TENSION. I: ETUDE THEORIQUEMAINY D; JOUFFREY B.1980; J. MICR. SPECTROSC. ELECTRON.; FRA; DA. 1980; VOL. 5; NO 1; PP. 1-12; ABS. ENG; BIBL. 11 REF.Article

DETECTION ET RESOLUTION DES IMAGES D'ATOMES. APPLICATIONS EN BIOLOGIE MOLECULAIREDORIGNAC D; JOUFFREY B.1978; J. MICR. SPECTROSC. ELECTRON.; FRA; DA. 1978; VOL. 3; NO 6; PP. 601-618; H.T. 5; ABS. ENG; BIBL. 108 REF.Article

UTILISATION EN MICROSCOPIE ELECTRONIQUE DES PERTES D'ENERGIE DES ELECTRONS POUR L'ANALYSE CHIMIQUE LOCALEJOUFFREY B; SEVELY J.1976; REV. PHYS. APPL.; FR.; DA. 1976; VOL. 11; NO 1; PP. 101-111; ABS. ANGL.; BIBL. 50 REF.; (METHODES ACTUELLES ANAL. SOLIDES. COLLOQ. EXPO. COMMUN.; DIJON; 1975)Conference Paper

CONTRIBUTION A L'ETUDE DES DEFAUTS D'IRRADIATION CREES DANS L'OR PAR DES ELECTRONSRUAULT MO; JOUFFREY B.1972; C.R. ACAD. SCI., B; FR.; DA. 1972; VOL. 275; NO 13; PP. 451-454; H.T. 1; BIBL. 11 REF.Serial Issue

Future of electron microscopy: prospects and instrumentation: Final report of the European Workshop, Toulouse, France, 28-30 January 1987JOUFFREY, B.Journal de microscopie et de spectroscopie électroniques. 1989, Vol 14, Num 3, pp 133-168, issn 0395-9279, 36 p.Article

IMAGES D'ATOMES DE STRONTIUM.DORIGNAC D; JOUFFREY B.1976; C.R. ACAD. SCI., B; FR.; DA. 1976; VOL. 282; NO 20; PP. 479-481; H.T. 2; ABS. ANGL.; BIBL. 6 REF.Article

ELECTRON IRRADIATION EXPERIMENTS IN GOLD WITH 2.5-MEV ELECTRONSRUAULT MO; JOUFFREY B.1974; APPL. PHYS. LETTERS; U.S.A.; DA. 1974; VOL. 25; NO NO 5; PP. 265-267; BIBL. 14 REF.Article

Electron microscopy in France. I: Material scienceJOUFFREY, B.Journal of electron microscopy technique. 1989, Vol 11, Num 3, issn 0741-0581, 185-241 [57 p.]Article

MANY-BEAM LATTICE IMAGES CALCULATED AT 100 KV AND 1000 KVTANAKA M; JOUFFREY B.1980; ACTA CRYSTALLOGR., SECT. A, CRYST. PHYS., DIFFR., THEOR. GEN. CRYSTALLOGR.; ISSN 0567-7394; DNK; DA. 1980; VOL. 36; NO 6; PP. 1033-1041; BIBL. 20 REF.Article

MICROSCOPIE ELECTRONIQUE ET DEFORMATION PLASTIQUE.COULOMB P; JOUFFREY B.1976; J. MICR. SPECTROSC. ELECTRON.; FR.; DA. 1976; VOL. 1; NO 4; PP. 569-570Article

Tendances en microscopie électroniqueJOUFFREY, B.Spectra 2000. 1991, Vol 19, Num 155, pp 52-55, issn 0399-1172Article

ON THE STRUCTURE OF MULTIPLE FRANK LOOPS IN QUENCHED ALUMINIUM-SILICON ALLOYSFNAIECH M; LOUCHET F; JOUFFREY B et al.1981; ACTA METALL.; ISSN 0001-6160; USA; DA. 1981; VOL. 29; NO 2; PP. 383-391; ABS. FRE/GER; BIBL. 16 REF.Article

CREEP UNDER IRRADIATION OF 316 STEEL IN THE HIGH VOLTAGE ELECTRON MICROSCOPECAILLARD D; MARTIN JL; JOUFFREY B et al.1980; ACTA METALL.; USA; DA. 1980-08; VOL. 28; NO 8; PP. 1059-1067; BIBL. 29 REF.Article

ON THE STRUCTURE OF MULTIPLE FRANK LOOPS IN QUENCHED ALUMINIUM-SILICON ALLOYSFNAIECH M; LOUCHET F; JOUFFREY B et al.1981; ACTA METALL.; USA; DA. 1981-02; VOL. 29; NO 2; PP. 383-391; BIBL. 16 REF.Article

FILTERED ELECTRON IMAGE CONTRAST IN AMORPHOUS OBJECTS. I: ELASTIC SCATTERINGZANCHI G; SEVELY J; JOUFFREY B et al.1980; J. PHYS. D; ISSN 0022-3727; GBR; DA. 1980; VOL. 13; NO 9; PP. 1589-1604; H.T. 1; BIBL. 16 REF.Article

KODIREX FOR HIGH RESOLUTION ELECTRON MICROSCOPY.DORIGNAC D; MACLACHLAN MEC; JOUFFREY B et al.1976; ULTRAMICROSCOPY; NETHERL.; DA. 1976; VOL. 2; NO 1; PP. 49-52; BIBL. 21 REF.Article

REALISATION D'UN ANALYSEUR DE PERTES D'ENERGIE DES ELECTRONS A TRES HAUTE TENSION (300 A 1200 KV)SEVELY J; PEREZ JP; JOUFFREY B et al.1973; C.R. ACAD. SCI., B; FR.; DA. 1973; VOL. 276; NO 13; PP. 515-518; H.T. 1; BIBL. 6 REF.Serial Issue

CREEP UNDER IRRADIATION OF 316 STEEL IN THE HIGH VOLTAGE ELECTRON MICROSCOPECAILLARD D; MARTIN JL; JOUFFREY B et al.1980; ACTA METALL.; ISSN 0001-6160; USA; DA. 1980; VOL. 28; NO 8; PP. 1059-1067; ABS. FRE/GER; BIBL. 29 REF.Article

SECOND ORDER IMAGE ABERRATIONS OF A ONE MEGAVOLT MAGNETIC FILTER.ZANCHI G; SEVELY J; JOUFFREY B et al.1977; OPTIK; DTSCH.; DA. 1977; VOL. 48; NO 2; PP. 173-192; ABS. ALLEM.; BIBL. 6 REF.Article